二手 TKK MAC-92MV1 #9375008 待售

TKK MAC-92MV1是为高精度测量而设计的先进的掩模和晶圆检测设备。它能够检测最小尺寸为3微米、最大直径为6英寸的晶片。该系统利用了多种先进的成像技术，包括电荷耦合器件（CCD）、特殊光学元件和光学显微镜。MAC-92MV1提供多种成像模式,包括亮场模式、暗场模式和反射模式,使用户可以获得最高级别的图像分辨率、对比度和景深。通过将最先进的图像处理算法与先进的光学技术相结合，该单元能够以高度的精度和可重复性捕获不同半导体结构的高质量图像。该机包括光学显微镜、光刻软件、计算机控制面板和自动检查阶段。显微镜使用图像强化技术来增强非常小物体的图像，并允许更详细的成像。光刻软件允许用户创建可直接打印到晶圆上的自定义光掩码。计算机控制面板提供了一个简化的界面，用于在检查过程中控制晶圆的轨迹。而且，自动检查阶段允许对晶圆上的大小特征进行精确的测量。TKK MAC-92MV1还包括内置特征识别工具和傅立叶变换图像处理器。前者可以根据用户设置的规则根据特定标准识别晶片上的特征。傅立叶变换图像处理器提高图像分辨率，提供更准确的结果。总体而言，MAC-92MV1是一个先进和稳健的掩模和晶圆检查资产，提供了卓越的准确性和可重复性。凭借其多种成像模式、强大的图像处理算法和自动检测阶段，该模型能够对最先进的应用以极高的精度准确可靠地测量半导体特性。