二手 TOKYO AIRCRAFT MEASUREMENT MAC-90 #293587747 待售

TOKYO AIRCRAFT MEASUREMENT MAC-90是一个面罩和晶圆检查设备,提供一致的真实和可衡量的结果.它是任何现代半导体材料加工设施的重要组成部分。该系统包括四个主要子系统：框架子系统、分析子系统、排序子系统和晶圆子系统。帧子系统负责掩码和晶圆的物理测量。该装置采用各种传感器，如超声波厚度计、介电贴片计和倒角检查传感器，精确测量掩模&晶片的尺寸和特性。它还包括一个集成的微型计算机和用户界面，以指导用户完成输入测量和运行比较测试的过程。分析子系统对于掩模晶片的客观分析至关重要.机器由可以检测缺陷的特殊算法组成，如裂纹、空隙、非均匀的表面特征和夹杂物。然后使用此子系统收集的信息来确定材料的整体质量,并帮助确定处理材料的最佳方法。排序子系统是根据掩码和晶片的大小和质量对其进行分类的组成部分。Sorting Subsystem用Analysis Subsystem分析材料后，Sorting Subsystem可以将材料分为「低品质」、「高品质」、「极低品质」和「非常高品质」等类别。最后，晶圆子系统负责精确测量晶圆的形状。这个子系统使用强大的算法来检测表面特征的变化，检测平坦度和表面积。这里收集的信息可以用来帮助确定晶片是否适合在生产线中使用。总体而言，MAC-90是任何现代半导体材料加工设施的重要组成部分。通过组合框架、分析、排序和晶圆子系统,该工具能够提供一致的真实和可衡量的结果。此外，其强大的算法和集成的微电脑使资产能够以极高的精度检测和分类掩码和晶圆。