二手 TOPCON Vi-SW150 #293830434 待售

TOPCON Vi-SW150是一种下一代的掩模和晶片检测设备,其设计目的是提供高度精确的成像和分析,即使是对于最先进的图样和结构也是如此。该系统提供无与伦比的精确度，并通过高分辨率成像和在广泛的角度和频率范围内扫描产生。Vi-SW150具有两个可单独控制的激光光源，波长范围从405纳米到633纳米，可以方便地调节视场照明。显微镜物镜还能够实现从5倍到2000倍的各种放大倍率，这取决于所检查的图桉和缺陷大小。它还具有板载定位单元,允许沿x轴和y轴自动扫描。TOPCON Vi-SW150还配备了可用于测量和处理扫描图像的高级成像软件。该软件在下一代实时操作机器上运行,该计算机允许快速分析数据以检测缺陷并确定其特征。它能检测和排除大于1纳米的微缺陷和宏观缺陷。Vi-SW150设计用于许多行业的各种应用。它在半导体工业中特别有用，在制造过程中可用于临界掩模检查和晶圆分析。它也是检查印刷电路板、光掩模和其他印刷材料的理想选择。TOPCON Vi-SW150易于操作,直观且符合最新的行业标准。它有一个完全集成的环境控制和安全工具，旨在确保资产和操作员始终保持安全。它还具有完全模块化和可扩展性,允许灵活配置和轻松集成到现有生产线中。总体而言,Vi-SW150是一种先进而可靠的自动掩模和晶片检查模型,可提供对细微的模式和缺陷的完整而准确的识别、检测和分析。它设计为易于操作,可为各种应用程序提供节省时间和经济高效的解决方桉。