二手 TOPCON WM 2500 #293616515 待售

TOPCON WM 2500是一种先进的掩模和晶片检测设备，设计用于检测和识别半导体晶片和掩模中的微观缺陷。该系统具有光学线性阵列、先进的二进制光学单元、嵌入式计量操作、先进的缺陷分析机等多种特征和技术，可以检测和分类甚至小于单个晶体管尺寸的缺陷。WM 2500的核心是它的光学线性阵列,它的工作原理是捕获和存储数千个图像,每个图像由数千个像素组成,每个像素代表多达256个灰度级别。此工具创建晶圆、掩模或标线的表面的超高分辨率图像,并用于识别、分类和量化表面可能存在的任何缺陷。TOPCON WM 2500还采用嵌入式计量操作，这意味着无需外部测量机来检测和测量缺陷大小。嵌入式计量学操作能够发现和测量尺寸从一微米到几十微米不等的缺陷，可以收集这些数据进行统计分析。WM 2500还利用先进的二进制光学资产，允许检查不同类型的缺陷，如晶体缺陷、断线和透明或透明的颗粒。模型还可以检查大面积的表面缺陷，如空隙和粒子，并且可以捕捉不同角度的物体图像。最后,该设备能够采用先进的缺陷分析系统,该系统可帮助用户根据大小、亮度、形状、方向和边缘清晰度等多种特性识别和分类缺陷。该单元可以精确检测和识别甚至小于单个晶体管的缺陷，并可以提供有关其位置和外观的详细信息。TOPCON WM 2500拥有先进的光学、计量和缺陷分析机,是半导体公司的宝贵工具,能够帮助他们准确识别、分类和量化可能威胁其产品完整性的缺陷。