二手 TOPCON WM 3 #9250106 待售

TOPCON WM3是一种掩模和晶片检测设备，利用先进的图像处理技术检测制造的掩模和晶片的缺陷。它拥有集成了RGB照明的4视图光学检测系统。为了获得更高的缺陷检测精度，该装置采用了先进的模式匹配算法，允许同时检查不同的掩模或晶片。该机实现了基于高分辨率相机光学的卓越图像采集能力。它还采用了基于硬质材料和软件的防反射和减少耀斑技术，确保了所检查的掩模和晶片的清晰清晰的图像。该工具的数码相机采用高分辨率拜耳和RGB单色模式的组合。TOPCON WM-3资产的缺陷检测能力非常出色，因为它能够检测和准确分类中小型缺陷。该模型可以利用先进的模式匹配算法自动检测到最大亚微米大小的缺陷。再者，它可以侦测到表面不均匀等其他不规则。设备还可以检测各种缺陷，如颗粒、划痕、污渍、分层或污染。WM3系统能够测量和分析各种缺陷以及晶圆缺陷和掩模之间的相对位置。该单元包括一台高速数据处理机，可以快速处理多个图像。然后将收集到的数据导出到外部系统进行进一步处理。还提供了一个功能强大的API,它允许工具与其他机器或进程集成。WM-3资产用途广泛，因为它为用户提供了各种不同的方式来定制和定制模型以满足他们的需求。它还具有用户友好的图形用户界面和强大的自动化设备，使系统易于使用和配置。总体而言，TOPCON WM 3单元是一种功能极其强大且用途广泛的面罩和晶圆检测工具。它提供了出色的缺陷检测功能、高速数据处理系统和可定制的用户界面,使其非常适合各种检查和分析任务。