二手 TOPCON WM 3000 #9106563 待售

TOPCON WM 3000是一种全自动的掩模和晶圆检测设备，设计用于高效筛选和评估半导体制造中的缺陷。该系统采用先进、强大的硬件平台,针对高速、高分辨率缺陷检测进行了优化。它还包括一个颜色编码的显示器，容易编程路径、参数和限制，以精确测量难以检测的显微镜缺陷。WM 3000允许测试各个特征、表面和材料,并对它们的缺陷进行比较。TOPCON WM 3000配备了两个独立的自上而下的摄像头，其中一个是彩色控制的，红外（IR）过滤在可见范围内成像。它采用一系列光束、透镜、滤镜和光圈设置进行设计,以检查对象的大小、形状和特征。两台摄像机均与Illuminator X-Y-Z扫描系统同步,以实现精确定位,并具有可重复的聚焦光束以实现高分辨率成像。用户友好的软件工作区具有多种参数设置,包括一个高级图像识别单元,该单元包含自动注解和数学形态学功能,以确保准确识别缺陷。自动掩模和晶片检测机与模式识别过程集成在一起，允许定义缺陷特征。用户还可以为基于形态的算法选择不同的模型，以改进错误警报的检测，并在需要快速结果时提高准确性。该工具的其他功能包括基于边缘的信噪比（SNR）计算,用于识别低对比度图像中的小缺陷,以及能够识别具有挑战性的动态图像中的缺陷的运动检测模块。WM 3000还与许多行业标准软件包兼容,从而可以有效地集成到现有缺陷审查过程中,或者使用高级自动化技术。资产还配备了用于掩模和晶圆制造过程的自动校正选项。它是为满足您的特定需求而分发的,数字输出界面允许轻松连接到数据库和其他软件工具。这种高效的检测模式极其方便用户和有条理，旨在最大限度地提高微电子生产的生产率。