二手 TOPCON WM-7S #9280870 待售

TOPCON WM-7S是一种精确可靠的掩模和晶圆检测设备，用于检测和测量半导体和光掩模基板上的缺陷。该系统利用高分辨率光学器件,为操作员提供卓越的成像能力,并在检查掩模和晶片缺陷时检查准确性。单元的核心是其先进的影像处理器，使总检查时间只有9秒。在此过程中,分割场CCD照相机捕获2个掩模或晶片表面的图像,以检测两个不同方向的缺陷。此外,激光扫描机还可以使光学器件在样品表面上有广阔的视野和快速移动,从而进一步提高了刀具的速度和效率。TOPCON WM 7S的控制控制台还具有许多自动控制功能,从设置审查参数到将资产与外部测量工具集成。这有助于捕获复杂的缺陷模式,如各种视线标记、色差和裂纹等缺陷。为了充分利用模型,WM-7S还提供了许多高级功能功能,如照片检查、模版模式检测和缺陷分级。在准确性和灵敏度方面，该设备能够检测到低至0.15 μ m的缺陷，使其适合在广泛的工业应用中使用。再者，系统的可用性通过直观的用户界面、全面的Windows兼容软件包、内置的数据管理工具等功能进一步增强。WM7S是一种高效可靠的掩模晶片检测装置，非常适合检测和测量基板上各种类型的缺陷。精确的成像和自动化控制确保为用户提供适合其特定检查要求的高级机器。此外,该工具的设计考虑到可用性、速度和准确性,使其成为任何应用程序或生产环境的理想选择。