二手 TORAY Inspectra PL #9248866 待售

TORAY Inspectra PL是一款功能强大且精密的掩模和晶圆检测设备。它专门设计用于检测半导体晶片和掩模上的各种类型的缺陷。该系统利用先进的视觉和图像处理算法来识别和检查各种各样的潜在缺陷。该单元采用精确的模式识别技术，使用同步曝光和成像时间检查每个晶片和掩码。这样就不需要人工目视检查,这可能会很麻烦而且很费时。此外，该机采用先进的自动校准和三维估计算法，大大减少了掩模和晶片之间的诊断和兼容性问题。该工具能够检测到各种类型的缺陷，如划痕、土墩、断线、花纹打滑。它还能够通过一次扫描识别潜在的地下和顶面伪影。而且，资产还可以检测晶圆表面上方的细微变形、掺杂模式、缺失特征和其他异常。该模型具有一系列简化掩模和晶圆检测过程的功能。它有一个直观的用户界面，使操作设备的速度和方便。此外,它还配备了响应迅速的光学系统,可帮助您在不影响速度和分辨率的情况下创建精确的图像。它还提供了一系列报告和分析功能，帮助用户更好地分析结果和查明某些缺陷。Inspectra PL是确保整个制造周期中一致和可靠的质量控制的理想解决方桉。因此，它被许多不同行业的许多领先半导体公司所使用。