二手 WACCO AVIS-B-10 #293661612 待售

WACCO AVIS-B-10是一种最先进的掩模和晶圆检测设备,可为用户提供卓越的精度、可靠性和速度。该系统利用光学成像单元检测和测量晶片和掩模上的缺陷，包括划痕、针孔和污垢。与传统的检查方法如扫描仪或人工检查相比，机器的创新设计允许更高的准确性和可重复性。AVIS-B-10具有两种主要的检测模式：均匀背景模式和异构背景模式。均匀背景模式用于检查晶圆或掩模上类似区域中出现的浅缺陷。此模式的工作原理是分析从晶圆或掩模表面散射的衍射光,然后创建参考图像,将其与被检查区域的图像进行比较。如果检测到任何差异或缺陷,工具可以立即向用户发出警报。异构背景模式用于检查更深的缺陷，或者当晶圆或掩码的特征对于同构背景模式而言过于复杂时。此模式的工作原理是分析被检查的晶片或掩模的光学图像,然后创建参考图像。然后比较参考图像和实际图像之间的差异,并立即标记检测到的任何缺陷。WACCO AVIS-B-10还具有自动缺陷分类资产。该模型使用先进的人工智能算法扫描参考图像，并将其与一组预先定义的标准进行比较，使设备能够将任何缺陷快速归类为潜在的灾难性缺陷或误报。系统可以进一步对缺陷类型进行分类，并向用户提供详细的描述，让他们更好地了解缺陷的性质以及如何解决。AVIS-B-10还具有精确测量单元。该机器利用激光三角测量工具精确测量缺陷深度和长度的大小，使用户能够更准确地评估缺陷的严重程度以及如何解决缺陷。总体而言，WACCO AVIS-B-10为用户提供了更高的精度和速度，当涉及到面罩和晶圆检查。它的高级资产能够有效地检测和分类缺陷,从而使用户能够快速准确地解决这些缺陷。