二手 WITHLIGHT OPI-110 #9281914 待售

WITHLIGHT OPI-110 Mask&Wafer Inspection Equipment是一个完整的解决方桉,用于检查一系列半导体材料的缺陷、缺陷和其他不一致之处。该系统提供高分辨率的成像解决方桉,具有广阔的视野,能够准确高效地检查一系列材料。OPI-110具有独特的成像显微镜，能够同时进行明场和暗场成像。这种双目显微镜光路干涉测量装置可以很容易地调整，以观察小至0.5 μ m的特征，使制造商能够有效地检测材料中的缺陷、污染和其他污染物。它的精密光学为用户提供了一个高分辨率的图像，可以通过简单地转移焦点来快速、轻松地导航。WITHLIGHT OPI-110还配备了自动晶圆处理机，旨在帮助简化和加快检查过程。通过轻巧的设计,可以轻松设置和重新定位该工具,从而实现平稳、准确的样品加载。资产还配备了先进的软硬件集成，使用户能够控制模型的参数，并以高分辨率、近乎实时的方式可视化图像。除光学检查外，OPI-110还可用于激光束感应电流（LBIC）成像。此技术使用户能够检测材料行为的变化,最大可达6 μ m。LBIC技术还能够检测样本中的不均匀区域，为用户提供详细的实时信息。WITHLIGHT OPI-110是任何半导体制造商寻求可靠有效的晶片和掩模检测方法的理想解决方桉。通过利用其复杂的成像功能和自动化的样品处理设备,OPI-110使制造商能够准确快速地检测材料中的缺陷、污染和其他不一致之处,从而提高其产品的质量。