二手 WITHLIGHT OPI-305 #9382260 待售

WITHLIGHT OPI-305是一种面罩和晶片检查设备，设计用于检查和检测来自面罩和晶片基板表面的微粒污染物。该系统为嵌入基板的颗粒和颗粒提供高分辨率成像。OPI-305利用激光二极管光源捕获粒子图像。然后利用WITHLIGHT专有的数字图像处理算法对捕获的图像进行数字分析。WITHLIGHT OPI-305提供456x435像素的高质量图像分辨率。这允许最大分辨率和对粒子的灵敏度，从而能够检测直径不超过1.2微米的粒子。激光二极管光源旨在最大限度地减少基板上的热量，并确保低水平的亮场照明。OPI-305集成了先进的光学元件，可以同时成像各种放大倍数。这使得更高分辨率的图像具有更高的放大倍率以及同时检查多个基板。该单元还内置了暗场照明，便于粒子检测。WITHLIGHT OPI-305包括先进的3D成像功能,允许对表面地形进行3D重建和分析以检测微粒污染物。该机器还有一个灵活的、可编程的检查协议，用于从可能具有不同表面拓扑结构的多个基板表面捕获颗粒物污染物的图像。OPI-305包括一个直观的用户界面，可以方便的操作和数据分析。它还包括一些预先编程的检查协议，可用于各种检查和粒子探测任务。WITHLIGHT OPI-305的设计确保了可重复、可靠的结果,具有高度的灵活性和可重复性。其直观的用户界面和数字图像处理算法保证了准确的检测结果。它具有高分辨率成像、检测功能和3D成像功能,是掩码和晶圆检查的理想工具。