二手 YASUNAGA LI-2000 #9103680 待售

YASUNAGA LI-2000 Mask&Wafer Inspection设备设计用于半导体Mask和Wafer精细特征的精确检测和测量。它为各种几何形状提供了快速可靠的检查和测量功能,允许高速运行和可重复性。该系统主要由高速检测单元、强大的图像处理机和强大的软件套件组成。高速检测工具利用独特的狭窄视野成像资产高速检测小特征。这使模型能够快速获取检查期间所需的图像数据。图像处理设备用于随机或确定性地处理获取的图像数据，包括分析特征的几何形状。系统中包含的功能强大的软件套件用于管理数据和图像数据的操作,为检查和测量半导体掩码和晶片上的精细特征提供了全面的解决方桉。LI-2000设计用于广泛的检查应用,包括缺陷检查、图样分析、照片掩蔽、扫描测量和其他类型的检查。该单元支持多种光学透镜，允许用于各种成像应用。它还能够支持先进的无损检测系统，包括计算机断层扫描（CT）系统和X射线系统。YASUNAGA LI-2000配备了一个内置的检查数据库，可以存储用于检查任务的用户定义配方设置。机器有一个庞大的测量模板库和强大的可视化编程语言。测量阵列、测量选择和算法参数可以定制，以适应个别应用要求。LI-2000是极其可靠的，旨在提供准确性和可重复性。该工具由业界领先的支持软件包提供支持,并在出货前经过全面测试。该资产还提供一系列配置和软件包,以适应不同的预算和客户需求。