二手 ZEISS REG C #9386144 待售

ZEISS REG C是一种掩模和晶片检查设备，能够执行一系列自动化任务，包括表面和嵌入式缺陷检查、地形评估和迭加计量。该系统将先进的运动性能与高分辨率和高灵敏度相结合，有效地检查具有高分辨率放大倍率和自动化操作的掩模和晶片。REG C的高分辨率和高灵敏度使其能够检测其他检测系统遗漏的缺陷。通过自动对焦控制，设备能够保持高质量的缺陷检测，自动运动确保机器能够高精度地到达掩模和晶片上所需的任何区域。ZEISS REG C配备了一个软件工具，使掩模和晶圆检查过程自动化。软件提供了用于掩码对齐、迭加测量和缺陷定位的工具。通过自动化检测过程，操作员可以利用软件快速评估掩模和晶片数据，确保检测的最高质量。此外，REG C借助场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）和扫描热显微镜（STM）能够进行广泛的表面分析。FE-SEM能够同时扫描高分辨率区域,而STM可以提供样品表面的详细分析。这种高分辨率和先进的表面分析相结合，可以对任何样品进行深入检查。ZEISS REG C是自动掩模和晶圆检查的强大工具。其强大的自动化特性，加上高分辨率和敏感性，使其成为任何类型的检查的理想选择。通过将先进的运动性能、高分辨率和高灵敏度相结合，REG C为掩模和晶片检测提供了可靠、经济高效的解决方桉。