二手 ZYGO F/0.75 Lambda/40 #9383775 待售

ZYGO F/0.75 Lambda/40掩模和晶片检测设备是一种高精度光学系统，旨在检测半导体器件制造中使用的光掩模和晶片的缺陷。该设备能够检查分辨率降至0.75微米的曲面,并提供自动聚焦跟踪和全场图像缝合等高级功能。机器的核心是一个大幅面激光光源，产生波长为40纳米的光。这样就可以在光掩模或晶片进入生产过程的下一步之前对其最小的特征进行检查。照明源配有一对先进的照相机，能够检测各种格式的缺陷，包括颜色、亮度和对比度。摄像机安装在一个可移动的平台上，可以方便地将摄像机放置在光掩模或晶片上的任何区域。该工具还包括一个集成的视觉处理器,它可以将两个摄像机的多个图像组合在一起,以创建整个区域的单个图像以供检查。此处理器还用于检测图像中的缺陷并存储数据以供以后查看。ZYGO F/0.75 Lambda/40掩模和晶圆检测资产配备了一系列功能，使检测过程更快、更高效。它具有较大的工作区域，允许在一次扫描中检查较大的晶圆。自动焦点跟踪功能确保检查过程尽可能准确。此外,该模型还附带软件,使用户能够自定义处理参数并设置一致性检查,以确保不会忽略任何缺陷。ZYGO F/0.75 Lambda/40面膜和晶片检测设备提供可靠的缺陷分析结果,使用户能够确保其产品达到最高质量标准。该系统适用于大批量和小批量生产运行，是半导体行业的理想工具。