二手 ZYGO F/3.3 #191694 待售

ZYGO F/3.3是一种用于测量半导体制造过程中掩模和晶片的形状精度和表面光洁度的掩模和晶片检测设备。该系统基于非接触式激光干涉仪技术检测亚纳米级表面异常。它能够以纳米级分辨率捕获掩模和晶片表面的三维（3D）地形图,非常适合一步一步测量表面平坦度和非平坦形状。ZYGO F/3.3的主要特点是精度高、精度高。它具有从0.1微米到5毫米的可调扫描范围，能够测量表面平面度到亚纳米级精度。它还能够在多个表面积上进行可重复的测量，并且能够检测到微妙的表面异常。该单元包括一个5轴机械平台，它可以容纳不同形状和大小的掩模和晶片。此外，ZYGO F/3.3有一个高精度的光学计量机，可以测量表面地形和平坦度。ZYGO F/3.3是一种高效的检测工具，可以简化半导体制造工艺。它具有高速扫描功能，可以让用户快速准确地获得结果。其软件可以将数据集成到可以实时访问的单个报告中。资产还可以轻松集成到现有的制造流程中,使用户能够以最小的中断程度使用模型。除了精度高、效率高外，ZYGO F/3.3还设计了易用性。其直观的用户界面允许用户快速、轻松地设置设备。该系统还包括一系列安全功能，可根据用户的个人需求进行定制。其坚固的结构提供了稳定性和可靠性，使其具有很高的耐用性和可靠性。总体而言，ZYGO F/3.3是一种先进的掩模和晶圆检测装置，能够提供高速的高精度检测数据。其用户友好的界面和坚固的结构使其成为半导体制造过程中的理想之选。它具有在纳米水平上精确检测表面异常的能力，高速扫描和数据集成能力使其成为简化制造过程的高效机器。