二手 ZYGO GPI-XP HR #9382317 待售

ZYGO GPI-XP HR是一种专业的掩模和晶片检测设备，设计用于精确检测临界光刻掩模和晶片。该系统利用先进的检测和测量算法来检测和测量微光刻晶片的特性。GPI-XP HR拥有一个强大的检查和测量软件库,该单元可配置用于各种应用程序,以满足最苛刻的要求。ZYGO GPI-XP HR配备高分辨率相机，以Leica Optics和先进的CCD技术为特色，具有卓越的空间分辨率，以及最新的电子和图像处理系统。相机工具可以针对各种类型的应用进行优化，可以配置为高速运行。一个多功能的二维。彩色数字图像处理资产是GPI-XP人力资源专有的成像引擎,可实现快速的检查速度和准确的图像捕获。该模型结合了先进的软件工具，用于强大的缺陷表征，自动化快速缺陷隔离和检测的过程。ZYGO GPI-XP HR的自动化测量范围,包括缺陷匹配、临界尺寸（CD）测量、线条轮廓分析、对比分析、边缘检测、散射测量、像素大小和线条宽度。此外,该设备还采用模式识别算法来识别特定的模式和检测细微的缺陷.该系统还包括用于高级注释和缺陷审查的模块,以及带有可定制模板的自动报告。GPI-XP HR还兼容其他行业软件标准，包括用于自动化编程和晶圆参数表征的OMRON IHI ChipVision软件。还与ZYGO Z-Scope Model等软件集成，用于高级缺陷审查。ZYGO GPI-XP HR非常适合口罩制造商、IDM和OEM寻找先进的口罩和晶圆检测能力,并结合业界领先的检测和测量精度。设备的模块化设计实现了规范的建立,以满足最苛刻的应用要求。