二手 ZYGO NewView 5000-5032-DS #9269321 待售

ZYGO NewView 5000-5032-DS掩模和晶片检测设备是一种先进的光学计量工具，设计用于半导体光掩模和晶片的高精度无损检测。该系统利用先进的光学、激光器和电子设备,提供了一系列高级功能和特性,以帮助发现可能不会被注意到的缺陷。该单元由低温冷却的200万像素RGB CCD摄像头组成，具有45度视角、静态动态图像捕捉、自动对焦和背光照明单元。这样,最大视场尺寸可达25毫米x 25毫米。它与一台快速高效的X-Y运动机器配有Z型驱动器，可进行纳米级图形测量。还采用了图像稳定工具，以确保在外部稳定因素可能由于振动或其他环境因素而导致不断扫描移动的测量条件下获得准确的结果。该资产能够使用高清RGB颜色信号或普通单声道信号。它还为数字和传统模拟光滤镜提供支持。此外，精确的数字数据校正可以直接应用于扫描图像，以改善测量。ZYGO NEWVIEW 5000 5032-DS利用其先进的光学器件来检测最小的特征,如划痕、斑点和尘埃粒子,并且能够检测到比半导体上可见特征还小的特征。利用立体成像、移相干涉测量、条纹投影和光强度比较等方法，为高像素密度晶片和低至90nm的掩模的检测提供了便利。它还可以检测mura和薄膜缺陷。为了确保准确性和一致的结果，该模型采用了一种独特的功能，称为"标准硅胶参考芯片"，允许检查多个不同的芯片类型和工艺。此外,ZYGO深入分析软件GOTO （Geometric Testing Equipment）有助于识别和分析比传统计量系统更深的缺陷。它还有助于识别有缺陷的晶片和掩模在其投入生产之前的模式。NewView 5000-5032-DS是一个可靠且广泛使用的系统,用于为任何掩模或晶圆检查提供准确的结果。这种先进的计量工具使工程师和科学家能够发现最小的缺陷，从而帮助降低晶圆和掩模生产成本。