二手 ZYGO NewView 6300 #9188823 待售

ZYGO NewView 6300晶片和掩模检测设备是一种自动化的非接触式光学计量系统,旨在快速准确地测量晶片和掩模上的器件特性。它结合了高分辨率成像和扫描可调谐激光干涉显微镜（STILI），使其适用于各种半导体、光电子和光机械制造测量。ZYGO NEW VIEW 6300有一个自动化的阶段，使它能够精确扫描和测量晶圆或掩码上的大面积。先进的光学器件可提供高达0.1微米的分辨率,从而能够测量极小的特征和结构。NewView 6300具有8毫米的工作距离和高达25毫米的视场,可在不到一分钟的时间内精确测量晶圆或掩码上的设备特性。NEW VIEW 6300配备了STILI技术，能够精确、精确地测量特征。STILI使用激光干涉测量来测量最小的地形特征，允许用户以极高的精度测量轮廓、坡度、高度和其他表面特征。它还具有通过薄膜堆迭或光学涂层等不同层薄膜沉积进行测量的能力。ZYGO NewView 6300还为不同的应用程序提供了多种检查模式。它可用于测量光刻成像、平面化、光刻或沉积等过程中高精度的器件特征。也可用于电极升空、掩模缺陷分析、晶圆稀释。该设备易于使用和设置,并且需要最少的操作员培训。它配有图形用户界面，可以让用户快速设置和运行机器，不会出错。此外,ZYGO NEW VIEW 6300具有很高的可靠性和精确度.它能够实现5nm或更高的特征测量可重复性,并且适合各种应用需求。它还能够测量多种类型的表面特征以及各种不同的特征，包括氧化、沉积和电阻率特性。NewView 6300是精确晶圆和掩模检查的高效工具，提供无与伦比的速度和精度。它具有简单的用户界面和高分辨率的光学器件，是任何需要精确掩模和晶圆测量的制造工艺的绝佳选择。