二手 ZYGO NewView 7100 #9059521 待售
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ID: 9059521
Surface Structure Analysis System
Optical 3D profiler, P/N: NV6K-0110
Sample stage: motorized X-Y axis, 6" x 6" travel, manual tip/tilt, Z-axis control, P/N: NV6K-0232
5x Michelson interferometer, P/N: NV6K-0451
20x AF Mirau interferometer, P/N: NV6K-0512
Manual 4-position turret with encoder, P/N: NV6K-0312
SiC flatness standard, 30mm d, P/N: NV6K-0710
Workstation table: P/N: 6300-3434-01
Vibration isolation table, P/N: 1840-700-105.
ZYGO NewView 7100提供高分辨率、自动干涉成像,用于掩码和晶圆检查。这种最先进的检查设备利用实时成像以纳米级分辨率捕获掩模和晶片的图像。NewView 7100是一款紧凑的设计,提供集成的数据采集、分析、报告和工作流管理,能够快速、准确地进行检查。ZYGO NewView 7100采用高级成像工具集构建,包括可变曝光图像、广域成像、干涉成像和相位/高度图像。该系统利用白光干涉，具有传统的暗场成像优势，具有快速连续捕捉多幅高分辨率图像的附加能力。该单元强大的光学器件提供实时viualization,可提供高对比度功能和最小噪声。NewView 7100设计用于各种掩码和晶圆检查操作。无论是用于晶片缺陷表征、覆盖、抗拒还是非抗拒成像，ZYGO NewView 7100都能提供可靠的成像结果。这台机器能够检测低反射率、灰尘、微粒和其他微小缺陷。它还提供了自动化的图像优化和统一的图像平地场,以获得优异的检查结果.NewView 7100采用高级软件套件设计,易于操作和精确控制。此工具提供了最新的直观用户界面、标注、自动校准技术和校准覆盖功能。ZYGO NewView 7100软件包括功能强大的人工智能和图像分析工具,允许用户轻松管理和分析数据。此资产还包括一个集成的缺陷数据库,以便于存储、检索和归档检查结果。NewView 7100提供自动缺陷检测、分类和报告功能。这包括基于特定项和缺陷分类的用户定义和预定义标准的缺陷分类。它还包括三相检查过程，使模型能够以一致和可靠的准确性识别和分类缺陷。总体而言,ZYGO NewView 7100是用于掩码和晶圆检测应用的理想解决方桉。凭借其高分辨率的光学、直观的软件和强大的成像工具集，这款设备提供了快速可靠的检测结果。它提供了可靠性和精确度,使用户有信心在不牺牲准确性或速度的情况下进行准确的检查。
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