二手 ZYGO NewView 7300 #9248752 待售

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製造商
ZYGO
模型
NewView 7300
ID: 9248752
优质的: 2011
3D Optical profiling system X, Y Table: 6" Part no / Description 6300-0459-01 / Electronics, power supply: 110 / 120 VAC, base system included 6450-0815-03 / 7000 Motorized, 5-Axis base stage includes motorized Tip / Tilt, X, Y, Z 6300-0650-01 / Motorized turret (4-Pos) (NV600 / 700 / 6000 / 7000) 6300-0522-02 / 0.5X Field zoom lens 6300-0316-01 / 1x Michelson objective (NV 6000/7000) (Not Turret Mountable) 6300-0593-01 / Objective: 5x Michel son objective 6300-0595-01 / Objective: 20x AF Objective 1776-666-012 / SiC Precision reference flat, 30 mm 1776-666-009 / Step height standard 85 mm 1840-700-105 / Vibration isolation table with 6300-2080-01 workstation table 6301-0401-01: 7300 3D Optical profiling system Automated 3-position multiple system zoom With 1.0x lens high performance digital Closed loop piezo scanning transducer with capacitive feedback 150 Micron scan high speed measurement module Enhanced illuminator with long lite LED high speed High resolution CCD camera (640x480) 20 mm extended Windows XP professional dell OptiPlex 745 minitower Core 2 Duo 1.86 GHz (2) DELL USB Keyboards (2) DELL USB Buttons Mouse with scroll DELL UltraSharp flat panel monitor, 17" (1.0 GB) Digital video adapter card: 667 MHz DDR2 2 x 512 SATA Hard Disk Drive (HDD): 80GB Optical filler panel: 48 X 32 CDRW / DVD SATA Combo drive Black PS2 serial port adapter 2011 vintage.
ZYGO NewView 7300是一种掩模和晶片检查设备,使用先进的光学成像技术和图像处理算法来检测和表征掩模和晶片上的缺陷。它旨在帮助提高半导体生产工艺的精确度和准确性,可用于二维和三维缺陷检测。该系统的工作原理是使用可调激光束扫描掩模或晶片的样品表面。激光束从样品表面反射出来,由高分辨率探测器检测。然后将检测到的信息发送到高端图像处理器进行进一步处理。然后,图像处理器提取缺陷检测,对其进行表征,并生成有关发现的详细报告。ZYGO NEW VIEW 7300具有高级缺陷表征功能,包括捕获、分析和比较来自样本表面多个视图字段的数据,甚至检测小缺陷的能力。它还为纳米级信函和逻辑检查提供可靠的成像。NewView 7300非常适合晶片和掩模检查、晶片和掩模鉴定以及模具侧成像中的缺陷检测等应用。它提供了一套全面的功能,包括动态聚焦单元以确保更高的精度,双波段激光照明技术以增强对比度,以及高速激光扫描机以更快地处理高分辨率图像。它配备了强大的图像处理引擎和先进的分析能力,能够对缺陷及其精确位置进行准确的检查和表征。该工具还可与SEM/TEM仪器集成,用于自动验证样本和传送缺陷数据。NEW VIEW 7300配备了用户友好、直观的图形用户界面,便于安装和操作。资产的设计符合准确性和可靠性的最高标准;有助于优化制造工艺产率;可用于各种半导体生产选择。
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