二手 BRUKER Dimension XR #293820697 待售

BRUKER Dimension XR是一种先进的原子力显微镜（AFM），提供用于纳米级成像和分析的尖端能力。此高性能仪器旨在满足当今研究和行业应用的需求,为各种成像和测量任务提供卓越的分辨率、灵敏度和灵活性。Dimension XR配备了多种最先进的功能,使其与市场上的其他AFM系统脱颖而出。这种显微镜的关键属性之一是它的高分辨率成像能力，允许用户以纳米尺度的精度可视化表面地形。XR模型在X和Y方向上的最大扫描范围最大可达100微米,从而能够在广阔的区域内捕获详细的图像。除了出色的成像功能外,BRUKER Dimension XR还提供高级扫描模式,允许用户以卓越的灵敏度探测材料属性。仪器配备了多种扫描模式，包括接触模式、敲击模式、非接触模式，各自为不同样本类型和测量任务提供独特优势。XR模型还支持高级扫描技术，如PeakForce Tapping，它为具有挑战性的样品提供了增强的成像分辨率和灵敏度。Dimension XR的一个突出特点是其集成光学显微镜，在扫描时提供AFM尖端和样品的实时视频成像。这一特性允许AFM尖端的精确对准和扫描区域的视觉确认，更容易获得高质量的成像结果。光学显微镜可用于快速定位样品表面上感兴趣的区域，简化设置过程，简化数据采集。BRUKER Dimension XR专为实现最大的多功能性和易用性而设计,具有用户友好界面,可直观控制扫描参数和成像设置。该系统与广泛的样品类型兼容，包括半导体材料、聚合物、生物样品等等，使其适合多种多样的研究和工业应用。XR模型还提供自动扫描功能,无需人工干预即可实现高效的数据收集和分析。除了成像和测量能力外，Dimension XR还配备了先进的数据分析工具，便于对AFM图像进行定量分析。该系统具有用于图像处理、表面粗糙度分析和机械属性映射的软件包,使用户能够快速轻松地从其AFM数据中提取有价值的信息。BRUKER Dimension XR凭借其高性能成像、高级扫描模式和直观的用户界面相结合，是纳米级研发的有力工具。