二手 BRUKER / VEECO Dimension 3100 #9258177 待售

ID: 9258177
Atomic Force Microscope (AFM).
BRUKER/VEECO Dimension 3100显微镜是一种角度分辨光学显微镜工具,用于多种应用,如表面计量和高分辨率成像。该显微镜集成了电荷耦合器件(CCD)摄像机和CCD探测器,提高了成像性能.它具有高达0.3度的角度分辨率,在垂直方向上测量长达2英寸的线段,在水平方向上测量长达4.5英寸的线段。VEECO Dimension 3100适用于薄膜分析缺陷检测等多种工业应用。它可用于纳米精度测量材料的表面地形、形态特征、形状测量和定量表征。它包含了一个直观的用户界面,提供了对结果的有效、实时观察。此外,它的自动化舞台系统允许样品的快速和精确移动;这是使用四个线性电动级完成的。舞台的上部可以被使用者调整成为平台的形式,现有的样品架和支架可以配合显微镜使用。其硬件配置和选项包括多阵列探测器、10倍0.25NA物镜、共焦激光扫描显微镜、荧光光谱、冷冻传输等。BRUKER Dimension 3100支持多种配件,包括Proxion软件,一种3D重建软件,与特定的阵列探测器配合使用。它允许创建曲面轮廓图像和曲面特征的实时3D投影。显微镜还具有一个自动调焦系统,目标镜片变化到0.1NA。这样就可以对曲面细节进行精确和可重复的放大。它还具有各种信号放大放大器的特点,这取决于需求。高信噪比确保了所有应用程序的可靠和准确的结果。总体而言,Dimension 3100显微镜是用于高分辨率应用的强大而直观的成像工具。它的灵活性、分辨率和多种多样的选择使其在许多工业应用中广受欢迎。
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