二手 BRUKER / VEECO Dimension Icon #293827010 待售

ID: 293827010
Atomic Force Microscope (AFM) X, Y Scan range: 90 μm x 90 μm, 85 μm Z Range: 10 μm, 9.5 μm Sample size / holder: 210 mm vacuum chuck Workstation: NanoScope 6, Stage controller, HV Amplifiers Acoustic isolation: With up to 85 dBC continuous acoustic noise Cables Air system controller PC Mouse Keyboard Monitor Spare parts Z Sensor noise level: 35 pm RMS 50 pm RMS force Vacuum sample chuck: 210 mm X and Y Axis Position stage: Rotating chuck: 180 mm x 150 mm Unidirectional: 2 μm Bidirectional: 3 μm Microscope optics: Digital camera: 5-Megapixel Viewing area: 180-1465 µm Digital zoom and Motorized focus.
BRUKER/VEECO Dimension Icon是一种最先进的原子力显微镜(AFM),提供了前所未有的纳米级科学访问途径。这种先进的成像仪器旨在通过对生物和无机样品进行纳米级成像和表征,为研究人员提供尽可能高的表面结构和特性分辨率。它具有灵活扫描模式的多功能扫描头、独特的样品进场设备和强大的控制系统。VEECO Dimension Icon具有300 mm的较大工作距离,便于更换样品,并提供了一种物镜设计,光圈可达5 µm。这样可以对具有清晰成像性能和最小热漂移的小特征进行成像。仪器的动态范围高达15N,噪声水平优于0.5纳米安培,而分辨率为100皮米。该仪器的高级扫描头能够进行地形成像以及敲击模式、侧向力显微镜(LFM)和Z-piezo调制扫描。头部还包含九个压电扫描仪,最大可达到6µmscanning面积,使其能够以快速的扫描速度拍摄高分辨率图像。BRUKER Dimension Icon使用了一个独特的样品进场单元,集成到显微镜光学中。这台机器为样品提供精确的垂直定位,分辨率为10纳米。它还允许直接表面接触测量,而无需悬臂,大大降低了研究的复杂性。Dimension Icon由具有用户友好界面的高性能计算机控制。此工具用于设置扫描参数和数据采集,以及分析和存储图像数据。它还可以方便地与光学显微镜等其他仪器集成。总体而言,BRUKER/VEECO Dimension Icon是一款功能强大的成像仪器,为纳米级研究提供无与伦比的性能。利用其灵活的扫描模式、独特的样本方法资产和直观的控制模型,研究人员可以以前所未有的细节水平探索表面结构的特性。
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