二手 BRUKER / VEECO Dimension Icon #293827011 待售
网址复制成功!
单击可缩放
ID: 293827011
Atomic Force Microscope (AFM)
X, Y Scan range: 90 μm x 90 μm, 85 μm
Z Range: 10 μm, 9.5 μm
Sample size / holder: 210 mm vacuum chuck
Workstation: NanoScope 6, Stage controller, HV Amplifiers
Acoustic isolation: With up to 85 dBC continuous acoustic noise
Cables
Air system controller
PC
Mouse
Keyboard
Monitor
Spare parts
Z Sensor noise level:
35 pm RMS
50 pm RMS force
Vacuum sample chuck: 210 mm
X and Y Axis Position stage:
Rotating chuck: 180 mm x 150 mm
Unidirectional: 2 μm
Bidirectional: 3 μm
Microscope optics:
Digital camera: 5-Megapixel
Viewing area: 180-1465 µm
Digital zoom and Motorized focus.
BRUKER/VEECO Dimension Icon是一种独特而先进的研究和实验室仪器。它是一种用于纳米尺度样品表征的多技术原子力显微镜(AFM)。VEECO Dimension Icon最常用于材料科学和半导体研究,特别是用于分析表面依赖性过程和纳米级材料性质。该设备包括一个独特的MultiMode 8扫描探针显微镜(SMM),可以支持多种AFM扫描模式,包括接触模式(Contacting Mode)、敲击模式(Tapping Mode)、动态接触模式(Dynamic Contact Mode)和静态接触模式(Static ContactMode)。这使用户能够以更高的可靠性生成一致且可重现的纳米级图像和数据。该系统还具有先进的纳米计量模块,旨在测量和分析具有亚纳米分辨率的纳米级结构。BRUKER Dimension Icon的设计采用开放式体系结构,允许与许多附件和外部仪器进行无缝集成。它配备了大型视觉触摸屏和触摸屏控件,提供直观的用户界面。它提供了多种工具和技术来促进自定义数据采集和分析,如峰值锁定、自动定位、漂移校正和自动分析。该单元还包括一个先进的热管理机器,确保温度一致和运行稳定的最苛刻的研究应用。该工具还与各种操作阶段和扫描探针兼容,可手动和自动控制动态和静态模式下的提示-样本交互。该资产包括样品持有人,样品范围从几微米到几毫米不等。它配备了一个自动化的采样阶段和电动扫描阶段,允许精确控制采样运动。Dimension Icon是材料科学、半导体研究和纳米级表征应用的理想研究和实验室仪器。它结合了高级功能、开放式体系结构和用户友好界面,是研究人员寻求高级功能和一致结果的理想工具。
还没有评论