二手 BRUKER / VEECO Icon 3 #9257586 待售

BRUKER / VEECO Icon 3
製造商
BRUKER / VEECO
模型
Icon 3
ID: 9257586
Atomic Force Microscope (AFM) Assembly E-box.
BRUKER/VEECO Icon 3是一种扫描探针显微镜(SPM),用于在纳米级分析样品表面。可用于生物和材料科学、半导体物理或微电子学等多种研究应用。VEECO Icon 3使用扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)。BRUKER Icon 3具有广泛的样本分析功能。它有一个高灵敏度的数字成像设备和一个相机,可以方便地分析各种各样的纳米结构。它还有一个高分辨率的阶段移动系统,可以非常精确地进行样本处理。图标3能够以原子级分辨率成像样品,并且可以在4K以下的环境中测量。扫描隧道显微镜(Scanning tunneling microscopy, STM)是一种使用超锐利导电探针的非侵入成像技术,用于测量样品的表面地形。样品被安装在一个特殊的盘子上,然后在样品保持在真空状态的同时在其表面扫描探针。探针扫描样品时,感应出探针与样品表面之间产生的量子力。收集得到的数据,并将其用于建立纳米级样品的图像。这种方法允许研究者获得有关样品特征的详细信息,如原子级分辨率图像或它们的化学成分。原子力显微镜(Atomic force mincopy,简称AFM)是一种技术,在样品表面扫描一个非常细的尖端,以便测量样品上各点的力。这种技术允许以约0.01纳米的平面外分辨率可视化样品表面上的特征。BRUKER/VEECO Icon 3也能一次追踪多个样本点以取得表面的3D影像。VEECO Icon 3包括各种用于样本分析的工具和软件,例如允许研究人员对样本进行基本测量的通用软件,以及更具体的软件包。这些软件包可以对样品进行更深入的分析,让研究人员能够调查样品的电热特性等性质。综上所述,BRUKER Icon 3是一款功能广泛的高分辨率扫描探针显微镜。它的高分辨率成像单元和舞台运动机器使科学家能够以极高的精确度研究样品,直至原子级分辨率。图标3还有多种用于样品分析的软件包,使其成为纳米级研究不可或缺的工具。
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