二手 BRUKER / VEECO MultiMode 8 #293602191 待售

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ID: 293602191
Atomic Force Microscope (AFM) Nanoscope V Controller Electro chemistry module Monitor PC Tip holders: Standard AFM Holder HR AFM Holder STM Holder Scanners: Picoforce 1B440-PF: Module Range: X / Y: 46.5 microns Z: 20 microns EV Liquid resist scanner: Range: X / Y: 17.6 microns Z: 3.81 microns 6595A Scanner: Range: X / Y: 1.24 microns Z: 0.66 microns.
BRUKER/VEECO MultiMode 8是一种扫描探针显微镜,旨在为材料科学研究提供一系列先进的可视化和分析能力。它提供了一套分析技术,包括原子力显微镜(AFM)和/或扫描隧道显微镜(STM),结合在模块化平台中。显微镜配备了广泛的分析功能,允许用户以超高分辨率捕获样品的地形、电气和机械数据。AFM和STM模式用于测量表面的机械和电气性能,以及查看各种材料的图像到纳米分辨率。这使研究人员能够对样品的结构、组成和其他物理特征获得有价值的洞察力。VEECO MultiMode 8可用于低温样品分析,提供机械弱样品的组成、结构和缺陷密度信息。该设备配备了环境和液体环境,用于进行现场样品测量。液体环境可用于测量复杂液体或气态环境中样品的动态行为。显微镜系统工作与广泛的材料从无机和有机源。BRUKER MultiMode 8的知识产权架构支持定制测量策略的开发,这些策略完全集成到单元中。这使得研究人员能够快速、准确地获取数据,而用户互动最少。它还有助于通过自动分析特征减少分析时间。MultiMode 8还提供了多种可视化工具,用于快速分析和解释数据以进行高效分析。它包括2D和3D成像模式,并配有先进的信号处理算法,用于从图像结果中提取所需的数据。此外,该机器可以与广泛的其他实验室设备结合使用,如SEMs、TEMs和透射电子显微镜,以进一步洞察材料的性质和行为。总之,BRUKER/VEECO MultiMode 8是一种先进的扫描探针显微镜,设计用于提供高分辨率成像和分析多种材料,功能广泛。该工具配备了能够更快、更准确地进行样本分析的功能。它适用于无机和有机样品表征,高度可定制,支持定制数据处理策略。其强大的可视化和信号处理工具允许对数据进行快速分析和总结,为研究者提供对材料行为的全面观察。
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