二手 BRUKER / VEECO Ultra Scan Control C #9098198 待售

BRUKER/VEECO Ultra Scan Control C是一种扫描电子显微镜（SEM），旨在提供成像、光谱和光刻应用中的尖端性能。VEECO Ultra Scan Control C结合了高分辨率离子探测器和强大的软件,详细分析了一系列材料,包括金属、聚合物和碳基材料。BRUKER Ultra Scan Control C由于其低像差列和低背景噪声,提供了出色的图像分辨率。仪器的X-Y扫描范围高达8mm，广泛的探测器提供光谱信息，如X射线发射、俄歇电子能谱和SEM元素图像，每一个都可以在0.5nm至10µm的放大范围内拍摄。Ultra Scan Control C具有高精度的自动对焦系统,即使在样品高度发生微小变化时,它也能通过提供校正反馈来确保图像质量。该系统还允许动态调整景深和放大倍率,以及沿z轴移动。此外，还可以使用广泛的样本持有者，以便研究不同几何形状的样本。BRUKER/VEECO Ultra Scan Control C能够对同一样本进行重复扫描,以便进行统计分析。图像对齐（ILA）功能能够对可变样品进行超高速成像,停留时间非常小。自动化的ILA还确保对多个样品进行准确成像，而无需重新对准。此外，先进的信号收集系统允许研究人员修改用于存储和分析数据的参数。软件功能（如峰谷检测）允许快速测量孔隙和晶粒大小,以及测量表面粗糙度。VEECO Ultra Scan Control C还具有一系列强大的分析和评估工具,包括直方图显示、标记特征和二维轮廓图。总体而言,BRUKER Ultra Scan Control C是一款先进的SEM设备,它为成像、光谱和光刻应用提供了广泛的功能,并且能够提供对一系列材料的详细分析。它结合了高分辨率离子探测器和强大的软件能力，是各学科研究人员的理想仪器。