二手 BRUKER / VEECO X-D3 AFM #9281333 待售

BRUKER/VEECO X-D3 AFM是一种原子力显微镜（AFM），用于纳米级成像和表面分析。它在x、y和z维度上具有1.5 nm的极高分辨率，用于对各种表面的磁性、电性和力学性能进行亚微米分析。该X-D3以其易用性、准确性和可靠性着称，使其成为专业和业余研究人员的理想选择。AFM的工作原理是用连接到悬臂上的尖端扫描纳米级样品表面。悬臂的运动由激光和光学探测器测量。悬臂以一定角度偏移,并在整个扫描过程中产生少量力。VEECO X-D3 AFM集成了多模式功能,包括接触（测量悬臂与样品表面接触力的变化）和非接触（悬臂在卸载状态下运作）。使用接触模式,X-D3能够精确成像和测量各种类型的表面地形,如地形高度变化、颠簸和空腔。非接触模式非常适合研究局部力学性能，如摩擦和弹性模量。该X-D3还配备了新的高分辨率DataCube成像系统，该系统结合了数字微镜设备（DMD）技术，用于先进的3D成像。该系统提供了比传统2D成像方法更高精度的高细节图像。DataCube的威力由超分辨率成像进一步增强，通过有效利用运动模煳来结合多个影像，超越了传统成像的解析度。该X-D3还针对使用内置静电计测量电流电压（I-V）特性进行了优化,使用户能够快速准确地测量电阻或电容中的跃迁。此外，AFM附带了集成的PicoScan IV控制器，在实验期间提供实时反馈，使用户能够更好地测量滞后曲线和磁域等纳米级特性。这款AFM的灵活性使其成为微电子、生物技术、半导体、数据存储研究等行业的理想选择。