二手 PARK SCIENTIFIC INSTRUMENTS AFM #9148943 待售

PARK SCIENTIFIC INSTRUMENTS AFM（原子力显微镜）是一种扫描探针显微镜，专门设计用于在原子细节水平上产生样品表面的高分辨率图像。这种显微镜在测量和成像软、硬表面和拓扑方面是独一无二的。这是通过一个极高分辨率的光学系统和一个计算机控制的机械探针的组合来完成的，该探针用于探测样品表面。AFM的核心是两个主要组件：传感器和悬臂，它们都安装在刚性平台上。传感器是一种超高分辨率光学系统，能够以纳米分辨率测量悬臂与样品表面之间的高频力强度。然后，这种力信号被转换成一个光学图像，并且可以用来产生一个非常详细的，高分辨率的三维图像的样品，适用于广泛的材料。悬臂是一个小梁,一端有一个单独的尖端,通常以垂直于样品表面的方向对齐。然后将尖端与样品表面接触,以测量尖端与样品表面原子和分子之间的力,以及诸如晶界等物理特征的图像。悬臂装有可调节压电驱动器，能够精细控制尖端的运动和位置。这允许尖端以纳米级的分辨率扫描样品表面，这远远超出了标准光学显微镜的极限。PARK SCIENTIFIC INSTRUMENTS AFM from PARK SCIENTIFIC INSTRUMENTS拥有卓越的成像性能特性,具有多项技术特性,致力于优化精度和速度。根据模型的不同，AFM可能有许多类型的样品级之一，设计用来精确测量样品相对于悬臂的位置。它还可能有一个样品扫描仪，这是一个可移动的组件，可以通过控制样品的运动来改变要测量的面积的大小。PARK SCIENTIFIC INSTRUMENTS AFM是科学和医学研究者的一个宝贵工具，因为它可以被用来研究各种材料的表面，如半导体、聚合物、蛋白质和细胞，具有非凡的精确度和细节。它能够分析表面地形、粗糙度、附着力和粘弹性等结构和特性。此外，它还可以用来观察这些性质随时间的纳米尺度变化，为材料的动态行为提供有价值的洞察。