二手 SONOSCAN C-SAM 300 #9016610 待售

SONOSCAN C-SAM 300是一种精密的超高分辨率声学显微镜。它能够扫描晶片和子板，以检查和检测电气元件的缺陷，如半导体器件和集成电路。C-SAM 300利用声学显微镜，这是一种用声音扫描和成像表面的无损检测方法。SONOSCAN C-SAM 300结合了SONOSCAN的声学镜头和高分辨率2D/3D显示屏以及包含自动缺陷分类和检测算法的软件包，允许快速可靠的缺陷识别和故障隔离。其系统还包括光束冷凝器、声学透镜、宽孔径高频换能器和精密X-Y显微镜级。C-SAM 300强大的声学成像提供1微米分辨率（横向和深度方向）的实时成像。其声学透镜的焦距很短，可以优化分辨率，容易接触到不同的元件。其宽孔径高频换能器能够垂直分辨率达到1微米的深度，横向分辨率达到0.45微米。与传统缺陷定位技术相比,SONOSCAN C-SAM 300能够检测到半导体器件上最小的缺陷,从而提供更高的分辨率和更低的信息丢失。该系统还能够识别和分类组件中的每一个故障,提供图像处理功能来自动检测和筛选缺陷,而无需任何人为干预。多种信号分析技术，如振幅调制、相位调制、反向散射、互相关和延迟时间分析，确保所有信号的应用和处理都得到优化，以便在C-SAM 300上获得最佳声学成像效果。可通过简化的菜单和可访问的选项轻松调整特定于应用程序的设置和参数。SONOSCAN C-SAM 300除了其出色的声学扫描能力外，还易于操作，具有直观的软件、自动缺陷识别功能，以及引导用户完成缺陷检测过程每一步的帮助系统。