二手 SONOSCAN C-SAM D-6000 #9223694 待售

SONOSCAN C-SAM D-6000是一种先进的半导体声学显微镜，设计用于无与伦比的声学成像和分析应用范围。该设备提供最新的声学成像技术,分辨率最高,并具有多项功能,可提供最高的系统性能和最好的声学成像数据。SONOSCAN C-SAM D6000使用激光脉冲回波技术在半导体晶片表面生成薄膜材料的声学图像。激光激发源产生的超声波脉冲集中在材料的正面和背面，并对产生的声波信号进行采集和处理。此扫描将生成材料的横截面视图。C-SAM D-6000提供了卓越的分辨率，使其成为检查和分析纳米级材料的理想工具。它还能够监测材料内部的微观修改，如地下缺陷、微电子元件和埋藏特征。其先进的硬件和软件功能也使其成为高批量生产线样品评价的理想选择。它的视野可以根据标本大小进行调整，允许非常精确的成像。C-SAM D6000非常适合分析IC元件、MEMS结构、3 D结构和高分辨率光刻结构的无损检测。此外，它对横截面成像技术的专门实施可用于对照预先存在的设计图纸检查制造材料，以查明与设计的任何偏差。SONOSCAN C-SAM D-6000提供了一整套软件工具,例如其Auto Focus功能,可确保实时正确聚焦,而无需手动调整。该单元还针对脉冲和CW声学成像进行了优化,为各种应用提供了更大的灵活性。SONOSCAN C-SAM D6000除了具有成像功能外,还提供一系列分析功能。其先进的信号/噪声抑制和预扫描仪特性，即使在存在信号污染的情况下，也能精确测量像层厚度和轮廓形状这样的特性。本机还包括一个最优的采峰算法，用于识别和表征具有极低振幅或高背景SNR的特征。C-SAM D-6000是一种高度通用的工具,旨在满足半导体行业广泛应用的要求。它的准确性、可靠性和高级特性使其成为分析任何类型材料的宝贵工具。