二手 SONOSCAN C-SAM #9138543 待售

SONOSCAN C-SAM （Confocal Scanning Acoustic Microscopy）是SONOSCAN, Inc.在1980年代开发的先进成像和测量技术。该工具用于可视化和测量极小的声学现象，如微观和纳米结构，不能通过光学显微镜看到。与普通光学显微镜相反，SONOSCAN CSAM不需要光源，因为声波提供了成像所需的能量，而不是光学显微镜中通常使用的激光束。这是一种无损分析方法，需要最小的样品制备。C-SAM仪器有两个组件：一个微观传感器和一个检测设备。微观换能器产生的声波被调谐到样品的共振频率。换能器还充当声学透镜，允许声波以明确的模式传输、聚焦和收集。透镜的设计目的是将声波能量聚焦在被检查样品的表面上，使材料可以在两个轴（x和y）中探测。当声波穿透样品表面时，会产生波形变化，然后被检测系统检测到。检测单元通过测量声波特征来确定材料的声学特性。通过测量声波波形的频率、振幅、相位和功率，检测机器可以确定材料的声学特性，然后将其用于产生图像。该图像可以用数字或光学显微镜查看，以比较结果并验证成像精度。CSAM可用于测量广泛的材料特性，包括厚度、孔隙度、弹性、热声不匹配、声波传播、声阻抗、表面纹理和声速。SONOSCAN C-SAM工具产生的声波也能够检测材料缺陷，如裂纹、空隙和材料中的其他不连续性。SONOSCAN CSAM是一个宝贵的工具，用于检查从聚合物到金属的各种材料，以及用于检查和测量微电子元件。该资产能够提供有关材料声学特性的精确信息，并能够通过光学显微镜检测不可见的缺陷，使其非常适合用于缺陷分析、质量控制、医学诊断和科研应用。