二手 VEECO / DEKTAK Dimension 3100 #9302575 待售

VEECO / DEKTAK Dimension 3100
ID: 9302575
Atomic Force Microscope (AFM).
VEECO/DEKTAK Dimension 3100是一种多组分扫描探针显微镜(SPM)设备,为样品表面提供高分辨率的地形、机械和电气表征。它拥有一个具有主动反馈系统的异常稳定的扫描平台,广泛应用于材料科学、纳米科学、半导体器件和MEMS等一系列研究和工业应用,以及用于纳米和摩擦学。VEECO Dimension 3100包括一系列硬件组件,设计用于测量和分析样品。主要组件是扫描头、舞台、显示屏和控制器。扫描头是安装在精密定位器上的高分辨率高速XYZ扫描仪。它可以以纳米尺度递增的速度对样品表面进行成像和移动,分辨率降至0.3 nm。舞台是一个电动平台,当扫描头进行测量时,将样品相对于XYZ扫描仪移动。显示器是一个强大的图形用户界面,它以各种模式(包括实时图像和定性图像)以高达50 nm/pixel的分辨率显示样品曲面。显示屏还允许用户控制扫描参数,如扫描速度、显示增益、扫描窗口的大小和速度以及不同的特性(如表面积、粗糙度和连续性)。DEKTAK Dimension 3100还具有额外的机械和电气部件,例如力和电气传感器,可实现样品的无损机械和电气特性。力传感器可以测量样品的硬度、刚度和摩擦特性,电传感器测量表面电阻率、数据传输等特性。最后,控制器是与Dimension 3100的硬件组件连接的基于PC的单元。它包括几种预编程的控制算法,能够进行复杂的多参数扫描。控制器还允许对来自机器的测量结果进行分析和实时数据显示。总体而言,VEECO/DEKTAK Dimension 3100提供了精确度、精确度和多功能性的卓越组合,可用于各种成像和材料特性鉴定任务。该工具的硬件和软件组件协同工作,以易于使用和可靠的方式提供高质量的结果。
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