二手 VEECO / DEKTAK Dimension X3D #9203396 待售

ID: 9203396
晶圆大小: 12"
优质的: 2006
Atomic Force Microscope (AFM), 12" 2006 vintage.
VEECO/Depak VEECO/DEKTAK Dimension X3D是一种用于测量和分析纳米级材料的最先进的扫描微探针显微镜。该显微镜利用原子力和扫描隧道显微镜的组合,提供超高分辨率成像、实时成像和快速数据分析。该仪器能够进行先进的表面分析和材料表征,使研究人员能够分析各种难以测量的材料。VEECO Dimension X3D是半导体制造工艺开发、材料科学、生命科学、工程等领域研发的宝贵工具。它主要用于测量表面台阶、空隙、晶界、纳米级缺陷以及各种材料的结构特征。它甚至可以用来分析纳米级粗糙度测量,测量纳米化的粒子。DEKTAK Dimension X3D可以测量多种材料,如无机、有机和聚合物。该仪器还具有对曲面高角度倾斜图像成像、确定表面粗糙度、测量聚合物纳米螺纹、研究纳米结构细节等广泛应用。Dimension X3D显微镜的主要特点是其高精度和高质量的成像能力。显微镜配备了非常精细的XYZ定位系统,以获取纳米结构的高精度图像。该系统能够以低至0.1度的倾斜角获取高分辨率图像。此外,在整个测量范围内都保持高分辨率。为保证结果的最高精度,仪器还具有闭环触发系统和抗振功能。除了出色的成像能力外,VEECO/DEKTAK Dimension X3D还提供了强大的分析工具。能够高精度测量尺寸参数,如表面步高、沟槽深度、表面粗糙度等。这使得研究人员不仅可以获得一种材料的详细图像,而且能够进行定量测量,从而对他们的研究提供更多的洞察力。"尺寸"(Dimensions) X3D是一种提供顶端线条特征的尖端仪器。它具有高分辨率的成像、精确的分析和先进的特性,使其成为任何实验室的宝贵工具。这使得它成为任何需要在纳米级别表征材料的组织的理想选择。
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