二手 VEECO / DEKTAK Dimension X3D #9298810 待售

VEECO/DEKTAK Dimension X3D显微镜是一种高分辨率扫描探针显微镜（SPM）设备，设计用于在微观尺度上测量表面地形。它用于纳米分辨率的表面剖面测量和分析。VEECO Dimension X3D由四个基本组成部分组成：SPM头,其中包含创建和检测尖端-样本相互作用的机制；驱动器和控制器单元；显微镜，包括成像和光学组件；以及用于控制和数据分析的计算机系统。SPM头可以在三个维度上扫描任意方向的样本,速度高达2000 nm/sec。真空卡盘将样品固定在适当的位置，可以使用XY或XYZ级在微米和纳米级精确定位样品。使用正确的探头和悬臂尖端,DEKTAK Dimension X3D能够执行多种表面成像模式,如接触模式和非接触模式。在接触模式（也称为'力模式'）下，由在样品表面扫描的尖尖（通常是硅AFM探针）产生相互作用力。非接触模式成像（也称为"敲击模式"）是通过悬臂尖端在样品表面上的振荡运动（敲击）来完成的,从而产生无损、低力的相互作用。尺寸X3D显微镜配有用于数据采集和分析的高性能软件。它具有边缘检测和曲面成像功能,允许用户精确测量曲面特征。此外,该单元还能够测量接触/非接触模式的运动和力曲线。VEECO/DEKTAK Dimension X3D机是一种正常运行的主力军,允许长时间、不间断的成像时间而不会过热。它设计为直观的使用，并可以快速付诸行动，有几个快速的步骤。总体而言，VEECO Dimension X3D对于需要可靠准确的SPM工具来测量纳米尺度表面地形的研究人员来说是一个极好的选择。由于其相对易用性和出色的成像能力，它是任何需要在纳米尺度上观察材料的应用的理想选择。