二手 VEECO / DEKTAK Dimension X3D #9390606 待售

VEECO / DEKTAK Dimension X3D
ID: 9390606
Atomic Force Microscopes (AFM).
VEECO/DEKTAK Dimension X3D,是一种高性能垂直扫描显微镜,设计用于广泛的计量和显微镜应用。该X3D采用集成视觉设备,利用2048 x 2048高分辨率图像传感器进行自上而下的样品查看。该X3D是可用的最精确和可重复的垂直扫描显微镜之一,沿z轴的分辨率可能为1 nm, x轴和y轴测量的分辨率可能高达0.1 um。该X3D为测量数据提供了极好的可重复性。X3D包括多种功能,可确保高精度、可重复的测量。该X3D采用栅格图样照明系统,在整个样品区域提供均匀强度。这提供了均匀的照明,提高了扫描和测量高度时的精度。该X3D还包括一个功能强大的图像处理单元,放大倍数可达32倍,可实现详细的样本成像。该机器能够进行明场、暗场和荧光成像,以及自动化的即时测量计算。X3D包括多种操作模式,包括扫描、地图、倾斜和高度。这些功能允许用户生成地形图、校准和验证测量结果以及执行高级计量应用程序。扫描模式允许用户生成2D扫描,而地图模式自动生成位置精度高达0.15微米的高分辨率3D地形图。倾斜模式对角度高达70°的样品执行投影3D曲面地形测量,允许用户分析曲面粗糙度和非平面轮廓。高度模式测量绝对高度,位置精度高达0.3微米。X3D最受欢迎的功能之一是Metrology Package软件,它可以自动完成从校准到数据采集的整个测量过程。此功能减少了操作人员的严重错误,并提高了测量的总体准确性和吞吐量。X3D还具有较大的舞台区域,可选的电动舞台XY驱动器可提供高达150毫米的范围。此功能为从材料研究到设备工程的一系列应用程序提供了一个大工作区。该X3D是研究人员和工程师寻找可靠、可重复测量工具的理想显微镜。其强大的成像功能和测量功能使其非常适合各种应用程序。从常规的非接触扫描到超精密的高分辨率测量,X3D是完成工作的完美工具。
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