二手 VEECO / DEKTAK Dimension X3D #9396852 待售

ID: 9396852
优质的: 2005
Atomic Force Microscopes (AFM) 2005 vintage.
VEECO/DEKTAK Dimension X3D是一种先进的光学显微镜,设计用于精确和详细的3-D表面地形测量。它能够以比传统的非接触/无触摸剖面仪小五倍的足迹制作纳米尺度的表面映射。该X3D采用无接触、无损垂直扫描干涉仪(VSI)技术进行三维测量。该设备的工作原理是将红外激光束以双通方式投射到表面上,并捕获样品和参考光束之间的干扰,用于计算样品的整体轮廓。该X3D的特点是改进了基于干涉仪的系统,增强了数据采集和分析能力。它使用多个空气轴承级进行高性能的尖端倾斜校正,以扫描曲面。这样可以精确测量平坦和弯曲样品的表面。X3D的显微镜测量头对振动具有很高的耐受性,提供非常低的噪声水平,并具有出色的电源处理能力。它还具有一种专有的减振结构,用于稳定扫描头,并在扫描头上提供物理反馈。该装置有一个内置的热补偿机,用于控制温度引起的漂移在测量。这样可以确保数据均匀分布并在表面上精确表示。该X3D还配备了一个功能强大、精密的软件包,用于控制显微镜和分析捕获的图像。该软件可提供多种应用,包括表面粗糙度和轮廓特征、纹理分析、3-D轮廓映射以及峰/谷测量。该X3D是高精度表面计量和微观表面检测的理想解决方桉。它是为工业和学术科学家设计的,并以高度的精确度提供可靠的结果。它提供了一个经济实惠且易于使用的解决方桉,用于详细的曲面三维映射。
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