二手 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension V #293610275 待售

VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension V
ID: 293610275
Atomic Force Profiler (AFP) Nanoscope V controller.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension V是为研究和工业应用而设计的多功能扫描隧道显微镜(STM)。VEECO Dimension V为研究和工业材料的亚微米和纳米级研究提供高分辨率成像和主动取样制图能力。DIGITAL INSTRUMENTS Dimension V利用多种技术以高达0.09 nm的分辨率创建样品图像。这些包括原子力显微镜(AFM)、近场扫描光学显微镜(NSOM)和隧道光谱。这种扫描隧道显微镜的多频率成像特征允许用户观察各种样品特性。Dimension V对STM图像采用干涉检测系统,类似于其前身Dimension III。集成电荷耦合检测器(CCD)比传统的扫描隧道显微镜能够实现更大的视场成像。显微镜的操纵器使用户能够精确地施加力、倾斜和旋转样品。它还具有多频控制器,可对不同类型的材料进行快速、精确的成像。此外,显微镜还可以测量表面地形、力距离曲线和介电特性-所有这些都具有清晰度和精确度。VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension V具有一系列自动化例程,用于样本处理和数据采集。在显微镜的液晶显示屏上显示样品操作和扫描结果的视觉反馈。此外,流程数据可以存储在计算机上,以便于进一步分析。最后,VEECO Dimension V包含一个易于使用的图形用户界面(GUI),允许用户快速查看、分析和处理样本图像。此外,DIGITAL INSTRUMENTS Dimension V与包括VEECO Portal和ImageJ在内的多种软件兼容。最后,Dimension V是一种高度通用的扫描隧道显微镜,专为工业和研究应用而设计.它利用各种技术以高分辨率创建样本图像,并使用集成的操纵器来精确施加力。VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension V还具有用于样本处理的自动化例程、其液晶显示器上的视觉反馈以及用于查看、分析和处理图像的GUI。
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