二手 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope IIIa #293586502 待售

ID: 293586502
Atomic Force Microscope (AFM).
VEECO/Digital Instrument VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS NANOSCOPE IIIa是一种扫描探针显微镜(SPM),旨在以极高的精度和灵敏度产生高解析度的表面影像。该显微镜用于测量纳米级材料和表面的性质。它有一个2轴定位设备,分辨率高达0.1海里,能够成像从几个埃到几毫米大小的样品。VEECO Nanoscope IIIa配备了多种可带来卓越成像能力的功能,包括闭环控制系统、精确对准单元以及先进的硬件和软件技术。其先进的闭环控制机提供准确、自动的样品定位和保持无漂移稳定性,而其对准工具则使扫描探头在其扫描范围内的所有点上保持与样品的正确距离和正确角度。DIGITAL INSTRUMENTS NANOSCOPE III A提供了一系列扫描模式,包括"地形"、"高度"和"摩擦"模式。在Topography模式下,扫描仪用于调查各种表面特征,如具有亚纳米分辨率的颠簸和凹陷。在"高度"模式下,扫描大小减小到一个小区域,并测量特征的特定高度。在"摩擦"模式下,探头的尖端用于测量表面摩擦。Nanoscope IIIa配备了集成软件套件"Nanoscope Software"",允许用户控制显微镜,收集数据并分析结果。这个先进的成像软件能够处理各种样本类型、成像模式和数据操作功能。VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS NANOSCOPE III A还提供了广泛的配件,使其成为各种实验应用的理想选择,包括大量的光电探测器选件、先进的扫描探头、多个操纵器以及一系列样品制备配件。此外,这款显微镜还提供了先进的数据采集和图像分析资产,使用户能够快速准确地可视化、存储和分析数据。DIGITAL INSTRUMENTS/Digital Instrument NANOSCOPE III A是纳米技术领域研究人员的完美解决方桉,为纳米技术应用提供高分辨率成像和先进能力。这种尖端扫描探针显微镜是纳米级成像和材料科学研究的理想选择。
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