二手 ZYGO / IBM SXM-200 #150544 待售
网址复制成功!
单击可缩放
ID: 150544
优质的: 1998
Atomic force microscope (AFM)
Input power: 115VAC, 50/60HZ, 10A
Includes computer control and programmability of surface scanning
Includes marble slab vibration dampening base
De-installed
1998 vintage.
ZYGO/IBM SXM-200扫描电子显微镜(SEM)是一种先进的成像工具,用于材料科学、生物学和工程学领域的微观成像。它具有高分辨率、高吞吐量和快速刷新率。它配备了新一代FAST扫描微米点枪、单色CCD相机,以及全新的X-Y定位微型样机舞台。SEM具有高分辨率静电透镜设备,可提供详细的成像功能。对于高灵敏度的成像样品,即使是原子序数较低的材料,光束电子能也可调节至30KV。高电子束功率允许对小特征进行更高分辨率的成像,确保样品的详细图像。IBM SXM-200还配备了自动化的10mm标本级。这个阶段可以以一微米的增量移动标本在X和Y方向上,从而让使用者能够精确地影像极小的区域。该阶段还配备了高分辨率编码器和绝对位置控制系统,以确保即使是微小的特征也能被准确捕获。ZYGO SXM-200配有一个自动化装置,用于控制和监测标本污染。这台机器的设计目的是尽量减少扫描过程中样品污染的可能性,以及减少扫描之间样品室的污染。此外,SXM-200还提供各种可选的分析和测量工具。X射线光谱仪提供了广泛的分析能力,从元素分析到化学分析。二级和反向散射电子探测器对表面成像和近表面层成像具有很高的灵敏度。ZYGO/IBM SXM-200易于使用和维护,非常适合分析高度详细的材料样本。这使得它成为材料科学、生物学和工程学领域的科学家和工程师的重要工具。
还没有评论