二手 JEOL JBX-6300 #9393311 待售
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ID: 9393311
E-Beam lithography system
Silicon substrate, 8"
Polymer coated wafer
Pattern: Resist
Motorized aperture
Loader push rod loadlock
(2) Pumps
SF6 Tank
Emitter:
White: 120 kV
High-voltage connecter
Water cooled blanker
High brightness field emission electron source
Acceleration: 100 keV
25 MHz Deflection system
With magnetic lens
Beam diameter: 2 nm
Pattern diameter: 8 nm
Laser controlled stage capable: 1 cm
Power supply: 208 V.
JEOL JBX-6300是一种扫描电子显微镜（SEM）.它具有先进的成像技术，使研究人员能够查看和分析到纳米尺度的标本。显微镜配备了多种提供高分辨率成像和分析能力的功能。JEOL JBX 6300配备了Thermo-FET超高真空场发射枪，能够产生高解析度的电子场发射源。这种野外发射枪使研究人员能够实现纳米尺度目标的高分辨率成像。此外，JBX-6300拥有多模式信号处理系统，使研究人员能够在各种成像和处理模式之间切换。此系统使用户能够为其样本选择最佳信号处理模式,从而提高分析精度。JBX 6300配备了几个先进的成像和分析功能，包括3D、反向散射和二次电子成像。3D图像提供了比2D成像更准确的样本地形表示。反向散射成像允许检测光学显微镜看不见的微妙特征。二次电子成像用于检测样品与背景的成分差异。这些成像能力使研究人员能够更深入地了解纳米尺度样品的结构和组成。JEOL JBX-6300还配备了多种样品操纵功能。电动级使使用者可以在电子束下移动样品，而该级是倾斜和旋转的，从而方便样品的导航。此外，显微镜还配有气体电池，用于注入反应性气体进行分析。气室允许研究人员在变化的压力和/或温度条件下分析样品。此外，JEOL JBX 6300附有一个集成的X射线微探针，让研究人员以无损的方式分析样品的元素组成。X射线微探针能够探测到低至纳米尺度的轻、重、高贵元素。JBX-6300是一个强大的扫描电子显微镜能够成像和微观分析在纳米尺度。它包括野外发射枪、多模信号处理系统、电动级、气室、X射线微探针等多种先进功能，为研究人员提供了查看和分析纳米尺度结构和成分的强大能力。
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