二手 ACCRETECH / TSK APM-90AF #293703113 待售

ACCRETECH/TSK APM-90AF是一种晶片探测器，用于探测和测试单个晶片上的集成电路。该机器能够每小时测试多达1000个晶圆，并配备了多种探测技术，包括电气、光学和热探测。Prober是高度可配置的,可用于各种测试和应用程序。TSK APM-90AF具有10英寸晶圆托架，总扫描范围为2.5英寸，直径为4.5英寸的玻璃喷嘴。该螺旋桨的最大电试速度为800 MHz，最大热试速度为200Hz。该探头还配备了绝对机械定位设备，能够在晶圆表面上快速准确地放置探头。Prober兼容各种半导体参数测试系统，包括晶圆级封装测试系统和晶圆级可靠性测试系统。Prober提供多种接口,包括一个数据总线连接器、两个串行端口和一个I/O端口。Prober配备了多种先进功能，使其非常适合测试高密度电路。Prober有一个内置的Z头工具，它使探测速度比传统的探头快六倍。Prober还具有AutoFinger™,这是一个复杂的探测系统,可以处理不同工艺的晶片批量制造。Prober有一个集成的ECCS（电子冷却控制单元），能够在探测、测试和分选晶片的过程中进行精确的温度控制。Prober还具有命令语言界面，允许用户对prober进行编程，以自定义测试过程和例程。ACCRETECH APM-90AF除了具有先进的功能外,还具有坚固可靠的设计。Prober配备了错误诊断机器，可以检测到并提醒用户测试过程中可能发生的任何错误，允许用户在影响测试结果之前快速识别并解决任何问题。APM-90AF是一种高度可配置、可靠和高效的处理器,非常适合测试和探测单个晶片上的集成电路。Prober的高级功能使其成为最苛刻的半导体测试作业的完美工具。