二手 ACCRETECH / TSK FP 3000 #293755902 待售
网址复制成功！
单击可缩放
ACCRETECH/TSK FP 3000 Prober是一种用于检查半导体芯片质量的最先进的设备。该设备由TSK探测设备主机组成 （PEM）-具有双探头、用于将探头定位在试验站的多轴步进电动机平台、用于监视和验证探头位置和对多个标记点的对准的视觉设备、用于串联电路测试的视觉检查区域 （ICT）、opto-isolator测试区域和自动更换工具（ATC）系统。ACCRETECH探测设备主机（PEM）-S是处理器的主要单元,包括微控制器、高速控制因子、数控单元和高速定位机。微控制器负责控制探头的运动、速度和位置，而CNC工具即使在探测频率较高的情况下也能提供更快、更平滑的操作。高速控制因子使资产在探测多点时达到高精度。高速定位模型保证了探头的精确移动和定位精度。双探头由两个高精度和高分辨率探头组成。此设计提供了高度的多功能性,允许执行更多的测试方桉。头部还配备了压力反馈设备，可以提供磨损和电极降解的信息；这有助于确保测试结果的准确性和质量。多轴步进电动机平台使探头能够在测试站内精确定位。该系统采用除磁剂降低噪声，保证高定位精度。这提供了在探测需要进行多次定位测量的较大芯片区域时的可重复性。视觉单元用于监视和验证多个标记点的探针位置和对齐方式。这样可以确保将探针精确放置在所需的测试触点上,并且探针尖端不会损坏正在测试的设备表面。此外，视觉机器能够检测到短裤、破损、异常等缺陷。视力检查区域允许进行串联电路测试（ICT）,以验证半导体器件的操作和质量。该工具利用了枪管和视觉探针的组合，可以确定实验电路中是否存在故障。光隔离试验区允许对被测装置进行更严格的测试，以防止泄漏和短路条件。该资产能够测量设备上每个隔离节点的隔离阻抗，大大提高了整体芯片功能和可靠性。最后,"自动工具更改"模型提供了一个灵活的平台,便于快速转换各种类型的工具。这使得prober能够根据被测设备优化工艺参数，从而确保尽可能高的测试精度和质量。
还没有评论