二手 ACCRETECH / TSK MHF 300L #293664535 待售

ACCRETECH/TSK MHF 300L是为薄膜材料的表征和沉积而设计的先进载体。它是一种用于评估半导体器件和基板性能的高精度仪器。Prober配备了用于即时修补的线性驱动电机系统，以及用于访问难以到达的位置的三轴机械手。Prober包含一个300 mm晶片测试室，容纳直径达300 mm的晶片。该腔室被隔离，以防止热噪声，并为精确测量提供了良好的真空稳定性。Prober还具有三轴加速度表,允许对材料进行高动态表征。高分辨率的力感应前张紧器确保精细工具和晶片的精确处理。它采用非接触式电气元件设计,可进行高精度的文字旋转测量。Prober装有各种传感器，包括温度、压力和光传感器。温度传感器适用于-35°C至150°C范围内的温度测量，适用于微处理器环境。光传感器可检测多达四个光波长，有助于分析透明材料的性质和性质。压力传感器检测施加到材料上的压力量，从而允许精确测量测试仪与样品之间的接触力。Prober还与各种测试软件兼容，包括TSK MHF软件，其中包括一整套功能，以涵盖广泛的表征任务。它还设有一个用于自动化数据分析和报告的统计数据分析系统。Prober收集的数据可用于生成详细报告，以确定半导体材料的特性。综上所述，TSK MHF300L是一种设计用于薄膜材料表征和沉积的高精度探头。它具有多种功能,可实现更快、更准确的表征结果。Prober配备了各种传感器，兼容多种测试软件，是研究和商业应用的理想选择。