二手 ACCRETECH / TSK MHF 400 #9194866 待售

ACCRETECH/TSK MHF 400是半导体和电子工业中为薄膜分析而设计的一种prober，用于检查各种晶片表面的各种特征，包括电阻率、电容、光学、微缺陷、薄膜测量和介电常数测量。Prober使用高度先进的系统,能够直接测量样品,而无需处理或清洁等任何中间步骤。该探头具有6英寸晶圆容量，能够在几分钟内快速准确地测量晶圆表面的不同元素。其高灵敏度反馈系统进一步确保了表面分析的高精度。Prober还配备了复杂但用户友好的图形用户界面（GUI）。这使运算符可以轻松地操作各种参数并显示其测量结果。GUI还具有许多功能,使用户能够监视各种功能,例如电源的状态、晶圆测试状态和prober环境的温度。除了具有高分辨率的监测和反馈能力外，该探测器还提供各种操作功能，包括：光学变焦、车载计量、电气测试和微拉曼测量。光学变焦功能允许操作员放大晶片，以极高的精度检查其特性的细节。板载计量利用prober的内置系统对晶圆上的各种特征进行精确、可重复的测量。然后可以使用这些测量来确保符合适用的行业标准。TSK MHF 400的电气测试特性为测试晶圆的电阻和电容提供了先进的解决方桉。它还具有敏感的表面材料扫描算法，使操作员能够实时观察晶圆的性质。微拉曼特性使用户能够在微观水平上检查晶片表面的物理特性，这对于分析难以检查的区域至关重要。ACCRETECH MHF400 Prober由于其精巧的设计和先进的功能,是各种要求苛刻的应用程序的理想选择。其直观的设计让即使是没有经验的操作员也能充分利用prober的能力，让他们能够轻鬆快速准确地测量晶圆的性质。