二手 ACCRETECH / TSK UF 200 #293615530 待售

ACCRETECH/TSK UF 200是一种prober，设计用于进行表面无破坏性电气测试。它旨在快速准确地测量半导体材料和器件的电性能，以找出问题。Prober专为支持薄晶片和超细螺距器件的测试需求而设计。该探测器采用介电力显微镜（DFM），可精确测量半导体材料在低频和高频下的准静态介电特性。它还包括一个致动力温度控制器（AFTC），以在测量和测试过程中保持温度稳定性。DFM和AFTC的结合使得无论温度波动如何，都可以精确测量半导体材料和器件的电性能。Prober有高分辨率光学显微镜和数字视频处理器，允许用户观察晶圆和被探测设备的微观特征。该设备还具有高级控制软件包,为用户提供对所有设备参数（包括测试角度和力）的直观控制,以实现最佳信号捕获。Prober还包括一个自动自定心单元校准（SUC）系统,可用于将探针尖端精确对齐并居中于样品边缘。这样可以确保不会发生未对齐和不准确的探测。Prober还包括一些安全功能,允许用户在进行测试时保持安全。其中包括振动和声波信号，视觉指示，以及在发生不安全情况时发出的声音警报。TSK UF 200 prober提供可靠、可重复和准确的测试结果。它是晶圆测试、体系结构测试、检测开孔和短孔缺陷、分析线键、器件表征和CAD设计以及测量半导体材料准静电特性的理想解决方桉。