二手 ACCRETECH / TSK UF 200 #9091007 待售

ACCRETECH/TSK UF 200是专门为集成设备的电气和光学测试而设计的prober。Prober支持对吞吐量高达2000个样本/小时的设备进行快速、精确的测试。对于需要快速可靠的设备表征的应用,prober是理想的选择。TSK UF 200 prober是为最苛刻的IC测试而设计的半自动设备。它是一个多站点系统，支持测试同一个测试夹具中的多个设备或多个测试夹具中的多个设备。该探头包括一个基础晶片载波单元、一个自动测量机、一个立体显微镜、三个探针臂、一个16位数据采集工具和各种电源。基础晶片载流子资产采用低振动、非磁性材料涂覆，减少探针振动，提高测量精度。该型号设计为减少用户端的时间和成本，因为它可以容纳模具粘合、成型、热固化等各种搬运设备。同时，该设备能够快速扫描晶片，高效测量多个芯片参数，精度高。自动测量系统便于以640 x 750 x 250 mm的LxWxH大小精确探测每小时多达2000台设备。自动装置包含精确的CCD相机，镜头放大倍率和全自动机械舞台。硅片高度的精确调整保证了探针和触点的精确对准。这确保了电气参数的精确测量。40倍放大的立体显微镜用于现场模具检查。该单元有效地生成景深约2.4毫米的清晰图像，用于精确识别测试点。三个探头臂配有许多坚固可靠的N8/N4/N2提示，以确保探测过程中的准确接触。它们带有固定或旋转的提示,以确保灵活调整和精确探测即使是最细腻的触点。这台16位数据采集机能够精确测量各设备的参数，达到纳米级。该工具可以同时测量多达200个通道，最大采样率为100 kHz，分辨率为4微伏。电源使用户能够设置不同的电源并实现设备的精确测试。利用低噪声和高压电源的多个输出，用户可以精确测量包括Vth、Idsat、载波浓度、击穿电压等参数。总体而言,ACCRETECH UF200 prober是需要快速、可靠和准确的电气和光学设备测试的应用程序的理想选择。自动测量资产可以以2000个样本/小时的速率精确测量多个芯片参数。具有立体声显微镜、多探针臂、16位数据采集模型、多种电源等一系列特性，prober允许最大程度的测试精度和灵活性。