二手 ACCRETECH / TSK UF 200 #9260034 待售

ACCRETECH/TSK UF 200是一种专门为满足半导体行业需求而设计的prober解决方桉。它是一个全自动晶圆探测系统，提供高度精确的测量精度，更快的探测时间和可靠的测试性能。TSK UF 200能够处理200mm-300mm范围的晶圆尺寸，为工艺开发、质量控制和故障分析提供高分辨率光学显微镜。它可以同时测量多达32针,以获得非常精确的结果。ACCRETECH UF200还提供了几种探针技术来支持不同类型的晶圆。这些探针技术能够测量晶圆的物理、电气和化学特性，从微米尺度到几毫米。对于物理性质，UF 200具有AFM（原子力显微镜）和SEM（扫描电子显微镜）功能。AFM使用户能够确定样品的拓扑和平滑度,直至原子尺度,而SEM提供晶圆表面和地下细节的高分辨率图像。电特性，如电阻，可以用FIB（场离子显微镜）测量，而ACCRETECH/TSK UF200也支持CV和IV技术进行更强健的电气测试。利用这些各种技术，TSK UF200可以测量重组中心、Shockley-Read-Hall参数和接口状态密度等。化学性质，例如晶圆表面存在的氧化态或化学态，可以利用ACCRETECH UF 200的俄歇电子光谱（AES）能力来测量。AES使用户能够了解被探测晶片的化学成分，从而在工艺开发和故障分析方面有进一步的了解。总体而言，UF200是一种高性能的晶片prober解决方桉，带有多种技术来测量半导体晶片的各种物理、电气和化学特性。它是一种功能强大、全自动的工具,可在半导体行业中提供高度可靠和准确的测量结果。