二手 ACCRETECH / TSK UF 200 #9283875 待售

ACCRETECH/TSK UF 200是一种为各种半导体器件的晶圆级探测、测量和测试而设计的prober。TSK UF 200旨在满足复杂晶圆级工艺控制应用的需求。它采用双显微镜成像和晶圆级探测的组合，允许用户可视化和测量低至100纳米的特征。ACCRETECH UF200采用独一无二的四轴电动级，在保持可靠准确的稳定平台的同时，针对高速精度进行了优化。这使得它非常适合直接检查小型设备。电动级可以高速、非常精确的方式在X和Y两个方向上移动对齐，与各种测量参数容量较大的晶圆槽架类型兼容。UF 200还配有集成光学显微镜，配有可见光图像传感器。图像传感器能够通过内部CCD摄像机捕获和显示表面拓扑图像。此外，这种显微镜有一个内置的自动聚焦功能和照明手段收集最高质量的图像可用。这为客户在探测和测量其设备结构时提供了更准确的结果,并具有更小的功能尺寸。作为UF200包的一部分,它带有两个集成的探头,每个探头具有3毫克的扫描分辨率。这使得它非常适合探测小到100纳米的特性，每一个头部具有一个专用的自动卡盘为快速和方便的连接。采用双头设计,可以显着减少样品布局,从而加快探测时间并提高吞吐量。TSK UF200还具有先进的探测能力，允许用户在原子水平上精确测量和测试设备。这使他们能够检测和分析设备缺陷,包括连接泄漏、过程变化和其他设备特性。为了进一步提高准确性和改进数据分析,ACCRETECH UF 200配备了功能强大的软件包,可实时获取数据并生成数据报告。该软件还提供强大的图像处理和分析功能,使用户能够快速检测和分析数据,这有助于过程控制和缺陷分析。最后,ACCRETECH/TSK UF200还具有独特的振动和温度控制系统,可确保最大精度的读数,同时消除来自外部源的干扰。这使得它特别适合自动化、可靠和可重复的数据收集。