二手 ACCRETECH / TSK UF 200 #9283895 待售

製造商
ACCRETECH / TSK
模型
UF 200
ID: 9283895
优质的: 2002
Prober Platform: J750 / J750EX No hinge 2002 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 200是一种紧凑、高精度、非接触式的3D光学表面测量仪器,设计用于在研发和生产环境中进行轮廓测量。它由先进的TSK CECOMAF软件提供支持,使其能够在各种曲面上高速、精确地进行测量。TSK UF 200使用3D激光系统单元在表面点有效测量3 D的表面地形,从而产生了多种应用,如测量样品轮廓的形状、大小、粗糙度和平坦度。样品的材料不重要,无论其反射特性如何,都可以测量表面点。测量范围为0.1 μ m,可达25毫米(1/2英寸),使其能够进行微观测量。系统的灵敏度(1 μ m)允许精确测量,Z方向分辨率为0.1 μ m可确保精确表示表面地形。最大扫描速度为0.2米/秒,数据分析部分最多可精确测量70个功绩数字(FOM)。ACCRETECH UF200还配备了能够应用各种滤波器和结果窗口以及线性、角度和平面测量功能的功能。该仪器能够连接到任何USB兼容打印机或PC,并配有带有内部内存的SD卡,方便用户使用。该软件可通过局域网连接进行远程更新,帮助轻松更新仪器软件和固件。它是便携式的,只需要很小的空间即可操作。ACCRETECH UF 200的高速和精确度使其适合医疗和汽车等广泛的行业,用于预防产品质量受损问题。由于它的准确性、质量和可负担性,它也为研究和生产目的提供了巨大的价值。
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